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活动 | 汽车电子芯片和模组多维度结构可靠性仿真分析

发布日期:
2025-05-21

浏览次数:

活动 | 汽车电子芯片和模组多维度结构可靠性仿真分析

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内容简介

在汽车电子芯片高可靠性要求下,Ansys 结构方案能紧扣 AEC-Q100、GMW3172 标准:芯片级通过温度循环仿真焊球 / 引线疲劳,模组级模拟振动冲击下焊点及连接器风险等。借助Ansys多维度结构可靠性方案,精准对齐标准测试工况,定位失效原因及快速预测寿命。Ansys可以助力客户设计阶段完成可靠性验证,加速车规级别可靠性认证,为自动驾驶、动力控制模块提供车规级结构保障。

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嘉宾介绍


活动 | 汽车电子芯片和模组多维度结构可靠性仿真分析

徐志敏
Ansys主任售前支持工程师


在PCB及封装结构产品可靠性有丰富的设计仿真经验,负责Ansys CPS结构可靠性方案;长期支持国内大型半导体、封装、通讯企业等仿真工作。2015年加入Ansys,负责Mechanical、Sherlock方向的技术支持工作。

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活动时间

2025年5月29日 16:00 - 17:00

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活动费用

免费

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参与方式

扫描二维码即可进入报名界面进行报名

活动 | 汽车电子芯片和模组多维度结构可靠性仿真分析

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活动咨询

李小姐

电话:18998584819 (微信同号)


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